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低溫試驗箱適用于非散熱和散熱兩類試驗樣品�？己撕痛_定電工、電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。
低溫試驗方法分為以下三類
非散熱試驗樣品低溫試驗：--試驗Aa：溫度突變
--試驗Ab：溫度漸變
散熱試驗樣品低溫試驗：  --試驗Ad：溫度漸變
低溫試驗方法通常用于條件試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。試驗持續(xù)時間是從試驗樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時開始計算的。在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定，則試驗持續(xù)時間從試驗箱達(dá)到規(guī)定試驗溫度時開始計算。
相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定：
a）試驗箱內(nèi)溫度變化速率；
b）試驗樣品放入試驗箱的時間；
c）試驗樣品在試驗條件下暴露試驗開始的時間；
d）試驗樣品通電或加負(fù)載的時間。
在這些條件下，相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T 2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個參數(shù)（以上條件下的修訂正在考慮之中）